Аналитик Mobile Research Group и обозреватель Mobile-review Эльдар Муртазин рассказал о возможных причинах поломок смартфонов Nokia N8 и C7. По его словам, к перезагрузкам и полной неисправности двух моделей приводит совокупность факторов, из-за которых из строя выходит флеш-память EEPROM, где хранятся различные данные.
К таким факторам относится отказ Nokia от компаунда, который соединяет слои платы и увеличивает виброустойчивость, «горячий» процессор, а также использование многослойной платы и экологически чистой пайки без применения свинца. Как утверждает Эльдар Муртазин, совокупность этих факторов приводит к небольшим деформациям платы и потере одного из контактов на шине, идущей к EEPROM.
Аналитик утверждает, что Nokia не приняла четкого решения, как менять сломавшиеся аппараты. «По словам инженеров, данные модели не ремонтируются, в них полностью заменяются платы», — отметил Эльдар Муртазин. При этом новые платы имеют те же дефекты.
«Уровень брака для первых двух месяцев аномально высокий, что позволяет говорить о том, что большинство аппаратов так или иначе в группе риска. По отзывам, которые нам удалось просмотреть, это разные телефоны, выпущенные в разное время, и их не объединяет ничего, кроме того, что они Nokia N8 или C7. Это грустно и означает, что брак массовый», — подчеркнул эксперт.
Источник: Onliner.by
|
